Medición de tiempo de vida media de portadores minoritarios en semiconductores / Sebastián Montero.
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: La Plata : Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electrotecnia, 2009.Descripción: 186 p. : anilladoTema(s): Alcance y contenido: Introducción - Tiempos de vida de portadores minoritarios en semiconductores - Métodos de medición de tiempos de vida - Diseño del sistema de medición - Desarrollo del software - Diseño del circuito impreso - Resultados - Conclusiones - Apéndices.
Proyecto de Trabajo Final
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Trabajos Finales de Ingeniería ELECTRÓNICA
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| Koha Ingenieria | TFE 735 MONTERO (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | TFE735 |
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Introducción - Tiempos de vida de portadores minoritarios en semiconductores - Métodos de medición de tiempos de vida - Diseño del sistema de medición - Desarrollo del software - Diseño del circuito impreso - Resultados - Conclusiones - Apéndices.
Trabajo Final de Ingeniería Electronica 735
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