Materials characterization : introduction to microscopic and spectroscopic methods / Yang Leng.

Por:

Leng, Yang

Tipo de material: Texto

TextoDetalles de publicación: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.Edición: 2nd edDescripción: xiv; 376 p. : figurasISBN:

9783527334636

Tema(s):

Alcance y contenido: Ligh microscopy - X-Ray diffraction methods - Transmission electron microscopy - Scanning electron microscopy - Scanning probe microscopy - X-Ray spectroscopy for elemental analysis - Electron spectroscopy for surface analysis - Secondary ion mass spectrometry for surface analysis - Vibrational spectroscopy for molecular analysis - Thermal analysis.

Tipo de ítem:

Libro

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Ligh microscopy - X-Ray diffraction methods - Transmission electron microscopy - Scanning electron microscopy - Scanning probe microscopy - X-Ray spectroscopy for elemental analysis - Electron spectroscopy for surface analysis - Secondary ion mass spectrometry for surface analysis - Vibrational spectroscopy for molecular analysis - Thermal analysis.

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