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Microstructural characterization of materials / David Brandon; Wayne D. Kaplan.
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: West Sussex : John Wiley and Sons, 2008.Edición: 2nd edDescripción: xiv; 536 p. : figurasISBN: - 9780470027851
Libro
| Biblioteca actual | Signatura topográfica | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
|---|---|---|---|---|---|
| Koha Ingenieria | 620.2 BRA Bloque 11 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 41538 |
The concept of microstructure - Diffraction analysis of crystal structure - Optical microscopy - Transmission electron microscopy - Scanning electron microscopy - Microanalysis in electron microscopy - Scanning probe microscopy and related techniques - Chemical analysis of surface composition - Quantitative and tomographic analysis of microstructure - Appendices.
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