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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Goldstein, Joseph I... [et al.].
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: New York : Springer, 2003.Edición: 3td edDescripción: xix, 690 p. : figurasISBN: - 9781461349693
Libro
| Biblioteca actual | Signatura topográfica | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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| Koha Ingenieria | 57.086/.088 SCA Bloque 10 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 40607 |
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Introduction - The SEM and its modes of operation - Electron beam-specimen interactions - Image formation and interpretation - Special topics in scanning electron microscopy - Generation of X-rays in the SEM specimen - X-ray spectral measurement: EDS and WDS - Qualitative X-ray analysis - Quantitative X-ray analysis: the basics - Special topics in electron beam X-ray microanalysis - Specimen preparation of hard materials: metals, ceramics, rocks, minerals, microelectronic and packaged devices, particles and fibers.
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