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Materials characterization : introduction to microscopic and spectroscopic methods / Yang Leng.
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TextoDetalles de publicación: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.Edición: 2nd edDescripción: xiv; 376 p. : figurasISBN: - 9783527334636
Libro
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| Koha Ingenieria | 57.086/.088 LEN Bloque 11 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 40689 |
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Ligh microscopy - X-Ray diffraction methods - Transmission electron microscopy - Scanning electron microscopy - Scanning probe microscopy - X-Ray spectroscopy for elemental analysis - Electron spectroscopy for surface analysis - Secondary ion mass spectrometry for surface analysis - Vibrational spectroscopy for molecular analysis - Thermal analysis.
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